詳細摘要: ZDL-Ⅲ中空玻璃露點儀采用半導體制冷方法是根據(jù)國家標準GB/T 11944—2002規(guī)定的技術條件制造的一種儀器。用于檢測中空玻璃試樣內(nèi)表面在標準規(guī)定條件和方...
產(chǎn)品型號:ZDL-Ⅲ所在地:北京市更新時間:2023-08-20 在線留言通信電纜 網(wǎng)絡設備 無線通信 云計算|大數(shù)據(jù) 顯示設備 存儲設備 網(wǎng)絡輔助設備 信號傳輸處理 多媒體設備 廣播系統(tǒng) 智慧城市管理系統(tǒng) 其它智慧基建產(chǎn)品